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致茂Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)

主要特色：

• 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)
• 適用於終端測(cè)試或系統(tǒng)功能測(cè)試
• 自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類(lèi)的功能
• 測(cè)頭內(nèi)建氣室，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
• 智能型的載盤(pán)IC殘留偵測(cè)
• 可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃)
• 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
• 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)，可自動(dòng)蒐集與分析測(cè)試、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)

3110 是一臺(tái)雙用單站的 Pick & Place 測(cè)試分類(lèi) 機(jī)，支援各種不同類(lèi)型封裝的晶片，如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類(lèi)機(jī)運(yùn)用 Pick & Place 技術(shù), 將待測(cè)晶片由進(jìn)料艙 移至測(cè)試區(qū)，再依測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分類(lèi)。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè) 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執(zhí)行測(cè)試 系統(tǒng)上的所有測(cè)試程式，旨在提供一個(gè)全能的解 決方案。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm，配備有 自動(dòng)進(jìn)出料分類(lèi)艙及手動(dòng)分類(lèi)盤(pán)，可蕞優(yōu)化工程 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)數(shù)量。簡(jiǎn)易操作的操控畫(huà)面，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機(jī)臺(tái)的使用率 及共用性。除此之外，它能針對(duì)不同的測(cè)試環(huán)境 條件，提供數(shù)個(gè)溫控系統(tǒng)的選擇，如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等，測(cè)試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫。

溫控解決方案

三溫變溫控制

• Temperature accuracy : ± 2℃
• Device temperature feedback (Thermocouple/RTD/Thermistor)
• PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
• PWM TE Power Control
• Die force control
• Modularized dry air chamber
• Water chiller
• Dry air supplier

主動(dòng)熱控模組 (ATC)

• Temperature accuracy : ± 2℃
• Test arm all in one
• Device temperature feedback
• PID Ramp Control (with auto-tuning capability)
• PWM TE Power Control
• Die force control
• Closed-loop cooling system (no external piping)
• Chamber-less

高解熱溫控模組 (PTC)

• Temperature range : < 85 ℃ (up to 300W dissipation)
• Closed-loop cooling system (no external piping)
• Test arm all in one
• Die force control
• Neither water chiller nor dry air supplier

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致茂Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)